No dia 26 de junho, o presidente da Abrapem, Carlos Amarante, esteve na sede do Instituto de Pesos e Medidas do Estado de São Paulo (Ipem-SP) para a celebração ao Dia do Metrologista. Na ocasião, foi realizado o seminário “A Metrologia como ferramenta de contribuição para a competitividade da indústria”.
O objetivo do evento era oferecer aos participantes palestras voltadas ao campo da metrologia, além de homenagear os profissionais da instituição que trabalham visando assegurar segurança e confiança à sociedade no que se refere às medições.
Para Carlos Amarante, presidente da Abrapem, o evento foi muito produtivo ressaltando a importância da infraestrutura da qualidade no bojo de nossa tão necessária recuperação do papel da indústria na economia brasileira.
Na mesa de abertura da solenidade, estavam o superintendente do Ipem-SP, Marcos Heleno Guerson de Oliveira Júnior; o secretário da Justiça e Cidadania (SJC) em exercício, Raul Christiano; o presidente da Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM), Rodrigo Costa Félix; o superintendente da Associação Brasileira de Avaliação da Conformidade (ABRAC), Masao Ito; e o presidente da Rede Metrológica do Estado de São Paulo (Remesp), Celso Scaranello.
Guerson abriu o encontro falando do papel fundamental do Instituto desde sua fundação e afirmou que a indústria necessita de um apoio metrológico que se traduza em valor efetivo, gerando competitividade e levando em conta as tendências de mercado e impactos da revolução que o mundo está vivendo.
“Existe uma necessidade de desenvolvermos uma Metrologia Industrial que se traduza em apoio real para as empresas, trazendo mais qualidade para os produtos e serviços do mercado, com benefício para todos, empresas e consumidores”, disse o superintendente.
Raul Christiano, abordou o papel da Secretaria da Justiça e Cidadania diante da indústria: “Nós temos seguido as diretrizes do governador, Tarcísio de Freitas, em praticar revolucionariamente os 3 Ds: o diálogo, o desenvolvimento e a dignidade. Esses princípios se correlacionam diretamente com a metrologia industrial, que é fundamental para garantir precisão, confiabilidade e inovação nos processos industriais”.
Na sequência, iniciou-se uma série de palestras com os seguintes temas:
Uma metrologia industrial para o século XXI;
O papel da metrologia na transformação para a indústria 4.0;
Serviços tecnológicos na indústria 4.0; A metrologia e novos métodos de medição para otimização dos processos de carregamento de líquidos;
A metrologia em sistemas de medição de vazão mássica de vapor d´água – transferência de custódia de energia térmica;
A importância da rastreabilidade dos padrões utilizados em metrologia dimensional.
Posteriormente, uma mesa redonda discutiu o tema “Novos equipamentos e tecnologias para melhorar a confiabilidade metrológica nas medições de fluidos”, com mediação do presidente da Remesp, Celso Scaranello; e participação de Guilherme Quevedo, da Conaut; Francisco Aguilera, da Metroval; Fábio Paes Estevão e Ivan Ribeiro Mania, da Emerson.
Ao final do evento, foram entregues certificados de participação aos respectivos convidados palestrantes, encerrando, assim, o dia de comemoração.
